本文標題:偏光鏡中的正交鏡上非均質晶體的檢測
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2015-10-8 15:42:33
偏光鏡中的正交鏡上非均質晶體的檢測
對于我們在使用顯微鏡對非均質晶體物質的檢測分
析研究觀察，則主要是對非均質切片與其它切片同
時進行顯微觀察。
這時我們在觀察這種晶體物質時就需要使上或是下
偏光鏡的振動方向是相同的，這樣我們在下偏光鏡
中所透出的晶體振動方向則是一種平行偏光。
這樣就不會改變晶體的振動方向，而如果達到上偏
光鏡時，上偏光鏡就需要與晶體的振動方向相垂直
，這樣就不會透過晶體而使晶體表面出現消光現象。
由此我們可以知道晶體的消光現象，則是在正交鏡
下會現出全消光現象，而這種晶體就是均質晶體，
也可能是非均質晶體垂直于光軸的晶體切片表面上
。
將本頁加入收藏
下一篇：什么是顯微檢測時出現的干涉色
上一篇：偏光鏡中的正交鏡上非均質晶體的檢測
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://m.jhyebx.cn/xinwen/1872.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
