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本文標(biāo)題:偏光顯微鏡檢測(cè)時(shí)出現(xiàn)的干涉現(xiàn)象
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-10-12 9:23:13
偏光顯微鏡檢測(cè)時(shí)出現(xiàn)的干涉現(xiàn)象
對(duì)于使用偏光顯微鏡對(duì)晶體表面進(jìn)行顯微觀察檢測(cè)
時(shí)，所出現(xiàn)的干涉色，則是由于顯微鏡在正交檢偏
位置的情況下出現(xiàn)的。
因此在這種情況下則需要使用各種不同的波長(zhǎng)對(duì)所
需要混合的光線進(jìn)行觀察晶體表面的雙折射體。
同時(shí)對(duì)于下偏光鏡則是一個(gè)可以進(jìn)行調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)動(dòng)的機(jī)
器部件，而下偏光鏡的調(diào)節(jié)主要目的就是為了調(diào)節(jié)
其振動(dòng)方向的。
通常情況下我們?cè)陲@微鏡單偏光鏡下所觀察到的晶
體形成程度，則是一種晶體邊棱的規(guī)程程度，而對(duì)
于這種晶體的程度則是根據(jù)不同的形貌特征進(jìn)行劃
分類型的。
因此我們可以說(shuō)晶體物質(zhì)表面檢測(cè)時(shí)的干涉色的主
要特點(diǎn)則分布玩的晶體雙折射的各類與晶體的切片
厚度進(jìn)行決定的。
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