本文標題:如何使用偏光顯微鏡對晶體的形態進行檢測
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2015-9-24 11:10:22
如何使用偏光顯微鏡對晶體的形態進行檢測
對于晶體物質而言它的形成是具有一定的結晶習性的，
這樣才能夠構成一定的形態結構組織以及晶體的形狀和
大小。
而晶體的形成是與晶體的形成程度以及完整的程度和形
成條件和順序是相關的，密不可分的，而通常則可以形
成的晶體有自形晶體、半自形晶體和其它形狀的晶體。
所以說晶體的形貌形狀不僅僅是推斷晶體形成的條件，
而同時對于整個立體晶體的形態是需要使用偏光顯微鏡
進行檢測其形態的。
通常情況下我們會利用偏光顯微鏡中的單偏光鏡進行檢
測晶體的形成程度與規則程度。
將本頁加入收藏
下一篇：晶體物質表面的檢測中出現的顏色與多色性
上一篇：碳纖維鞘芯結構的偏光顯微鏡檢測法
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://m.jhyebx.cn/xinwen/1842.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
