本文標題:顯微觀察用的聚光器顯微檢查
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2015-5-21 10:36:51
顯微觀察用的聚光器顯微檢查
聚光器很少用于日常的熒光顯微鏡檢查，因為暗場
聚光器產生的像反差高得多。
在測微熒光根據樣品吸收般光的程度及其熒光象，
可以用它來尋找并挑選顯微鏡制品中合適的區域。
測微熒光測前要把物體引進測量視野內，因為尋找
物體并經小心地對在測量光闌中心。
所以這不宜用強度高的表面光完成，否則會發生迅
速的若干種吸收像。
將本頁加入收藏
下一篇：物體樣品標本的冰凍切片法的特點是什么
上一篇：什么是紅外熱成像原理的認識
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://m.jhyebx.cn/xinwen/1588.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
